簡(jiǎn)要描述:主要用于測試薄的熱導體、固體電絕緣材料、導熱硅脂、樹(shù)脂、橡膠、氧化鈹瓷、氧化鋁瓷等材料的熱阻以及固體界面處的接觸熱阻和材料的導熱系數。檢測材料為固態(tài)片狀,加圍框可檢測粉狀態(tài)材料及膏狀材料。
產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category性能特點(diǎn)
技術(shù)參數
DRL-III導熱系數測試儀(熱流法),熱阻測試儀
DRL-II型
一、概述:
本儀器主要測試薄的熱導體、硅膠、硅橡膠、固體電絕緣材料、導熱硅膠、導熱樹(shù)脂、氧化鈹瓷、陶瓷基片、其他鋁基片、陶瓷基板、氧化鋁瓷等陶瓷導熱系數測定。檢測材料為固態(tài)片狀,加圍框可檢測粉狀態(tài)材料及膏狀材料。
儀器參考標準:MIL-I-49456A(絕緣片材、導熱樹(shù)脂、熱導玻纖增強);GB5598-2015(氧化鈹瓷導熱系數測定方法);ASTM D5470-2017(薄的熱導性固體電絕緣材料傳熱性能的測試標準)等。廣泛應用在大中院校,科研單位,質(zhì)檢部門(mén)和生產(chǎn)廠(chǎng)的材料分析檢測。
二、主要技術(shù)參數:
1、試樣大?。褐睆?0mm
2、試樣厚度:0.02-20mm
3、熱極控溫范圍:室溫-299.99℃ ,控溫精度0.01℃。
4、冷極控溫范圍:0-99.00℃,控溫精度0.01℃。
5、導熱系數測試范圍:0.01~50W/m*k,0.1~300W/m*k
6、熱阻測試范圍:0.05~0.000005m2*K/W
7、測試精度:優(yōu)于3%。
8、試樣可在真空狀態(tài)下試驗,確保測試環(huán)境及精度,真空度0.1MPa。
9、實(shí)驗方式:a.材料導熱系數測試。b、接觸熱阻測試。
10、計算機全自動(dòng)測試,并實(shí)現數據打印輸出。
DRL-III-P型(真空型)
一、概述:
本儀器主要測試薄的熱導體、固體電絕緣材料、導熱硅脂、樹(shù)脂、橡膠、氧化鈹瓷、氧化鋁瓷等材料的熱阻以及固體界面處的接觸熱阻和材料的導熱系數。檢測材料為固態(tài)片狀,加圍框可檢測粉狀態(tài)材料及膏狀材料。
儀器參考標準:MIL-I-49456A(絕緣片材、導熱樹(shù)脂、熱導玻纖增強):GB5598-2015(氧化鈹瓷導熱系數測定方法);ASTM D5470-2017(薄的熱導性固體電絕緣材料傳熱性能的測試標準)等。
儀器特點(diǎn):帶自動(dòng)加壓,自動(dòng)測厚裝置,并連計算機實(shí)現全自動(dòng)控制。儀器采用6點(diǎn)溫度梯度檢測,提高了測試精度??蓹z測不同壓力下熱阻曲線(xiàn),采用優(yōu)化的數學(xué)模型,可測量材料導熱系數和熱阻以及界面處接觸熱阻等多個(gè)參數。
廣泛應用在高等院校,科研單位,質(zhì)檢部門(mén)和生產(chǎn)廠(chǎng)的材料導熱分析檢測。
二、主要技術(shù)參數:
1、試樣大?。褐睆?0mm
2、試樣厚度:0.02-20mm
3、熱極控溫范圍:室溫-299.99℃,控溫精度0.01℃。
4、冷極控溫范圍:0-99.00℃,控溫精度0.01℃。
5、導熱系數測試范圍:0.01~50W/m*k,0.1~300W/m*k
6、熱阻測試范圍:0.05~0.000005m2*K/W
7、壓力測量范圍:0~1000N
8、位移測量范圍:0~50.00mm
9、測試精度:優(yōu)于3%。
10、試樣可在真空狀態(tài)下試驗,確保測試環(huán)境及精度,真空度0.1MPa。
11、實(shí)驗方式:a、試樣不同壓力下熱阻測試。b、材料導熱系數測試。c、接觸熱阻測試、老化可靠性測試。
12、計算機全自動(dòng)測試,并實(shí)現數據打印輸出。
典型用戶(hù)
清華大學(xué)化學(xué)化工學(xué)院
清華大學(xué)材料學(xué)院
華中科技大學(xué)6臺
國防科學(xué)技術(shù)大學(xué)(湖南長(cháng)沙)
北京化工大學(xué)2臺
同濟大學(xué)
江西理工大學(xué)3臺
電子科技大學(xué)
華東理工大學(xué)3臺
中國科學(xué)院寧波材料所3臺
華爍科技股份有限公司葛店分公司
河南生茂固態(tài)照明科技公司
深圳寶迅通電子公司
大連理工大學(xué)
哈爾濱工業(yè)大學(xué)
深圳森日有機硅公司
西安立民電子科技有限公司
肇慶皓明有機硅公司
宜賓環(huán)球光電節能公司
南車(chē)電力機車(chē)(湖南株洲)2臺
南方科技大學(xué)
(華中科技大學(xué)材料學(xué)院12臺套熱膨脹儀、導熱儀實(shí)驗室現場(chǎng))
DRL-III導熱系數測試儀(熱流法),熱阻測試儀
DRL-II型
一、概述:
本儀器主要測試薄的熱導體、硅膠、硅橡膠、固體電絕緣材料、導熱硅膠、導熱樹(shù)脂、氧化鈹瓷、陶瓷基片、其他鋁基片、陶瓷基板、氧化鋁瓷等陶瓷導熱系數測定。檢測材料為固態(tài)片狀,加圍框可檢測粉狀態(tài)材料及膏狀材料。
儀器參考標準:MIL-I-49456A(絕緣片材、導熱樹(shù)脂、熱導玻纖增強);GB5598-2015(氧化鈹瓷導熱系數測定方法);ASTM D5470-2017(薄的熱導性固體電絕緣材料傳熱性能的測試標準)等。廣泛應用在大中院校,科研單位,質(zhì)檢部門(mén)和生產(chǎn)廠(chǎng)的材料分析檢測。
二、主要技術(shù)參數:
1、試樣大?。褐睆?0mm
2、試樣厚度:0.02-20mm
3、熱極控溫范圍:室溫-299.99℃ ,控溫精度0.01℃。
4、冷極控溫范圍:0-99.00℃,控溫精度0.01℃。
5、導熱系數測試范圍:0.01~50W/m*k,0.1~300W/m*k
6、熱阻測試范圍:0.05~0.000005m2*K/W
7、測試精度:優(yōu)于3%。
8、試樣可在真空狀態(tài)下試驗,確保測試環(huán)境及精度,真空度0.1MPa。
9、實(shí)驗方式:a.材料導熱系數測試。b、接觸熱阻測試。
10、計算機全自動(dòng)測試,并實(shí)現數據打印輸出。
DRL-III-P型(真空型)
一、概述:
本儀器主要測試薄的熱導體、固體電絕緣材料、導熱硅脂、樹(shù)脂、橡膠、氧化鈹瓷、氧化鋁瓷等材料的熱阻以及固體界面處的接觸熱阻和材料的導熱系數。檢測材料為固態(tài)片狀,加圍框可檢測粉狀態(tài)材料及膏狀材料。
儀器參考標準:MIL-I-49456A(絕緣片材、導熱樹(shù)脂、熱導玻纖增強):GB5598-2015(氧化鈹瓷導熱系數測定方法);ASTM D5470-2017(薄的熱導性固體電絕緣材料傳熱性能的測試標準)等。
儀器特點(diǎn):帶自動(dòng)加壓,自動(dòng)測厚裝置,并連計算機實(shí)現全自動(dòng)控制。儀器采用6點(diǎn)溫度梯度檢測,提高了測試精度??蓹z測不同壓力下熱阻曲線(xiàn),采用優(yōu)化的數學(xué)模型,可測量材料導熱系數和熱阻以及界面處接觸熱阻等多個(gè)參數。
廣泛應用在高等院校,科研單位,質(zhì)檢部門(mén)和生產(chǎn)廠(chǎng)的材料導熱分析檢測。
二、主要技術(shù)參數:
1、試樣大?。褐睆?0mm
2、試樣厚度:0.02-20mm
3、熱極控溫范圍:室溫-299.99℃,控溫精度0.01℃。
4、冷極控溫范圍:0-99.00℃,控溫精度0.01℃。
5、導熱系數測試范圍:0.01~50W/m*k, 0.1~300W/m*k
6、熱阻測試范圍:0.05~0.000005m2*K/W
7、壓力測量范圍:0~1000N
8、位移測量范圍:0~50.00mm
9、測試精度:優(yōu)于3%。
10、試樣可在真空狀態(tài)下試驗,確保測試環(huán)境及精度,真空度0.1MPa。
11、實(shí)驗方式:a、試樣不同壓力下熱阻測試。b、材料導熱系數測試。c、接觸熱阻測試、老化可靠性測試。
12、計算機全自動(dòng)測試,并實(shí)現數據打印輸出。
典型用戶(hù)
清華大學(xué)化學(xué)化工學(xué)院
清華大學(xué)材料學(xué)院
華中科技大學(xué)6臺
國防科學(xué)技術(shù)大學(xué)(湖南長(cháng)沙)
北京化工大學(xué)2臺
同濟大學(xué)
江西理工大學(xué)3臺
電子科技大學(xué)
華東理工大學(xué)3臺
中國科學(xué)院寧波材料所3臺
華爍科技股份有限公司葛店分公司
河南生茂固態(tài)照明科技公司
深圳寶迅通電子公司
大連理工大學(xué)
哈爾濱工業(yè)大學(xué)
深圳森日有機硅公司
西安立民電子科技有限公司
肇慶皓明有機硅公司
宜賓環(huán)球光電節能公司
南車(chē)電力機車(chē)(湖南株洲)2臺
南方科技大學(xué)
(華中科技大學(xué)材料學(xué)院12臺套熱膨脹儀、導熱儀實(shí)驗室現場(chǎng))
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